ความสัมพันธ์ระหว่างระยะเวลาหลังประทับลายนิ้วมือกับจุดลักษณะสำคัญพิเศษของ รอยลายนิ้วมือแฝงบนถุงพลาสติกซิปล็อค ด้วยวิธีการปัดผงฝุ่นดำ และ Cyanoacrylate

บทคัดย่อ

        การวิจัยนี้วัตถุประสงค์ 1) เพื่อเปรียบเทียบจุดลักษณะสำคัญพิเศษของรอยลายนิ้วมือแฝงบนถุงพลาสติกซิปล็อคด้วยวิธีผงฝุ่นดำ และ Cyanoacrylate 2) เพื่อศึกษาความสัมพันธ์ระหว่างระยะเวลาหลังประทับลายนิ้วมือกับจุดลักษณะสำคัญพิเศษของรอยลายนิ้วมือแฝงด้วยวิธีผงฝุ่นดำ และ Cyanoacrylate และสร้างสมการพยากรณ์ระยะเวลากับจุดลักษณะสำคัญพิเศษของรอยลายนิ้วมือแฝง โดยงานวิจัยนี้เป็นการวิจัยเชิงทดลอง แบบแผนการทดลอง Static-Group Comparison ด้วยการตรวจเก็บรอยลายนิ้วมือแฝงบนถุงพลาสติกซิปล็อคที่ระยะเวลาหลังประทับลายนิ้วมือที่ 0,1,2,3,4,5,6,7,14,21 และ 28 วัน โดยวิธีการตรวจเก็บจำนวน 2 วิธี ได้แก่ วิธีการปัดผงฝุ่นดำ และ Cyanoacrylate ดำเนินการวิเคราะห์ข้อมูลด้วยสถิติเชิงพรรณา ได้แก่ ร้อยละ ความถี่ ค่าเฉลี่ย ค่าสูงสุด ค่าต่ำสุด และส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน ด้วยสถิติเชิงอนุมาน ได้แก่ การเปรียบเทียบค่าเฉลี่ย 2 กลุ่มที่สัมพันธ์กัน สัมประสิทธิ์สหสัมพันธ์เพียร์สัน และการวิเคราะห์การถดถอยเชิงเส้น

        ผลการวิจัยพบว่า 1) การเก็บรอยลายนิ้วมือแฝงบนถุงพลาสติกซิปล็อคด้วยวิธีการปัดผงฝุ่นดำสามารถตรวจเก็บจำนวนจุดลักษณะสำคัญพิเศษได้มากกว่า Cyanoacrylate อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ 0.05 จากวิธีการปัดผงฝุ่นดำ มีค่าเฉลี่ยเท่ากับ 53.64 จุด และจาก Cyanoacrylate มีค่าเฉลี่ยเท่ากับ 42.00 จุด 2) การเก็บด้วยวิธีการปัดผงฝุ่นดำ ที่ 0-28 วัน มีค่าความสัมพันธ์ในระดับสูงมีค่าความสัมพันธ์ในระดับสูงมาก(r = 0.990) สามารถพยากรณ์ได้ร้อยละ 98.0 มีสมการเป็น y = 30.535 – 0.415x  ในส่วนCyanoacrylate ที่ 0-28 วัน มีค่าความสัมพันธ์ในระดับสูง (r= 0.894) สามารถพยากรณ์ได้ร้อยละ 80.0 มีสมการเป็น y = 54.437 – 1.503x และเมื่อทำการแยกวิเคราะห์เป็น 2 ส่วน โดยส่วนแรกที่ 0-14 วัน มีค่าความสัมพันธ์ในระดับสูงมาก (r= 0.941) สามารถพยากรณ์ได้ร้อยละ 88.5 มีสมการเป็น y = 19.261 – 0.313x ในส่วนหลังที่ 14-28 วัน มีค่าความสัมพันธ์ในระดับสูงมาก (r= 0.998) สามารถพยากรณ์ได้ร้อยละ 99.6 มีสมการเป็นy = 91.230 – 3.098x