ผลของความเร็วรอบในการเคลือบและระยะเวลาการเก็บรักษาต่อคุณภาพของเมล็ดพันธุ์ถั่วเหลือง

บทคัดย่อ

     งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อศึกษาผลของความเร็วรอบในการเคลือบด้วยเครื่องเคลือบแบบจานหมุนและระยะเวลาการเก็บรักษาต่อความงอกและความแข็งแรงของเมล็ดพันธุ์ถั่วเหลือง ณ ห้องปฏิบัติการเทคโนโลยีเมล็ดพันธุ์ คณะวิศวกรรมและอุตสาหกรรมเกษตร มหาวิทยาลัยแม่โจ้ จัดสิ่งทดลองแบบ 4×4 Factorial ในแผนการทดลองแบบสุ่มสมบูรณ์ มี 2 ปัจจัย ได้แก่ ปัจจัย A คือ ความเร็วรอบในการเคลือบเมล็ดพันธุ์ ได้แก่ เมล็ดที่ไม่เคลือบ (ควบคุม) เมล็ดที่เคลือบด้วยความเร็วรอบที่ 76 รอบต่อนาที เมล็ดที่เคลือบด้วยความเร็วรอบที่ 117 รอบต่อนาที และเมล็ดที่เคลือบด้วยความเร็วรอบที่ 151 รอบต่อนาที ปัจจัย B คือ ระยะเวลาการเก็บรักษา ได้แก่ 0 2 4 และ 6 เดือน บรรจุเมล็ดในถุงพลาสติกและนำไปเก็บรักษาในสภาพห้องที่มีการควบคุมอุณหภูมิ (15 °C; 50% RH) ผลการทดลองพบว่าการเคลือบเมล็ดพันธุ์ถั่วเหลืองด้วยเครื่องเคลือบแบบจานหมุนที่ความเร็วรอบที่แตกต่างกันพบว่ามีความงอกในสภาพห้องปฏิบัติการและสภาพโรงเรือนหลังการเคลือบมีค่าเฉลี่ยเท่ากับ 89% เมื่อเปรียบเทียบระหว่างกรรมวิธีการเคลือบพบว่า การเคลือบที่ความเร็วรอบ 151 รอบต่อนาที มีผลทำให้ความงอกในสภาพห้องปฏิบัติการ ดัชนีการงอก ความแข็งแรงของเมล็ดพันธุ์ และความมีชีวิตของเมล็ดพันธุ์ มีความแตกต่างกันทางสถิติกับกรรมวิธีการเคลือบอื่น ๆ และเมล็ดที่ไม่เคลือบสาร (p≤0.05) เมื่อพิจารณาถึงอายุการเก็บรักษาพบว่าเมล็ดถั่วเหลืองที่ผ่านการเคลือบและไม่เคลือบ เมื่อเก็บรักษาเป็นระยะเวลา 6 เดือน มีผลทำให้ความงอกในสภาพห้องปฏิบัติการและสภาพโรงเรือนลดลง รวมถึงความแข็งแรงของเมล็ดพันธุ์ที่มีค่าลดลงด้วยเช่นกัน เมื่อพิจารณาอิทธิพลร่วมระหว่างความเร็วรอบที่ใช้ในการเคลือบและระยะเวลาการเก็บรักษาพบว่า มีอิทธิพลร่วมกันต่อความงอกในสภาพห้องปฏิบัติการและสภาพโรงเรือน และดัชนีการงอก โดยพบว่าเมล็ดที่ผ่านการเคลือบที่ความเร็วรอบที่ 151 รอบต่อนาที และมีการเก็บรักษาเป็นระยะเวลา 4-6 เดือน มีผลทำให้คุณภาพของเมล็ดพันธุ์ลดลงเมื่อเปรียบเทียบกับเมล็ดที่ไม่ได้เคลือบ